X射线检测系统可以用于所有X、γ射线装置的防护水平检测，尤其适用于工业脉冲X光机及医学摄影用X光机机房的泄露水平检测，同时适用于脉冲反应堆的感兴趣区域剂量率检测。是放射卫生评价、环境影响评价、科学试验监测、国土安全检测、核应急场合的理想检测仪。

　　X射线检测系统主要是检测半导体接线处的焊接问题，焊接容易出现虚焊、漏焊等缺陷，一旦形成这些缺陷，半导体就容易出现短路等问题，为了半导体元件的正常使用，在焊接完成后需要进行缺陷检测。是目前市场上用于样品内部检测的设备，相比较于其他类型的检测设备。

　　X射线检测系统仪器的工作原理：

　　该剂量仪采用一支盖革-弥勒计数管来测定辐射，当每一次射线通过该GM管并引起电离时便使该GM管产生一次检测电流脉冲，每个脉冲被电子管电路检测并记录为一个计数，该剂量仪的显示值为在你所选定的模式下的计数值。 由于放射性的随机特性，故由剂量仪所检测到的计数值各分钟有变化，当取一段平均时间内的读数则较为正确，当所取的时间间隔越长则平均数越准。

　　X射线检测系统能较直观地显示工件内部缺陷的大小和形状，因而易于判定缺陷的性质，射线底片可作为检验的原始记录供多方研究并作长期保存，对薄壁工件无损探伤灵敏度较高。对体积状缺陷敏感，缺陷影象的平面分布真实、尺寸测量精确。对工件表面光洁度没有严格要求，材料晶粒度对检测结果影响不大，可以适用于各种材料内部缺陷检测，所以在压力容器的焊接质量检验中得到广泛应用。

　　但是，X射线检测方法耗用的X射线胶片等器材费用较高，底片评定周期较长，检验速度较慢，对厚壁工件检测灵敏度低，只宜探查气孔、夹渣、缩孔、疏松等体积性缺陷，能定性但不能定量，且不适合用于有空腔的结构，对角焊、T型接头的检验敏感度低，不易发现间隙很小的裂纹和未熔合等缺陷以及锻件和管、棒等型材的内部分层性缺陷。